Home > Term: spectrometrie de masa secundară ion (SIMS)
spectrometrie de masa secundară ion (SIMS)
O tehnică de măsurare precizie utilizate pentru a analiza cantitativ elemente si izotopi de materiale la scări microscopice (cu o rezoluţie spaţială tipic de 1 micrometru). Instrument de A SIMS este numit un microprobe ion.
- Part of Speech: noun
- Industry/Domain: Astronomy
- Category: Planetary science
- Company: PSRD
0
Creator
- Marku
-
(V.I.P) 54575 points - 100% positive feedback
(Timisoara, Romania)
