Home > Term: Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS)
Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS)
Ein Präzisions-Messtechnik verwendet, um die Elemente und Isotope von Materialien auf mikroskopischen Skalen (mit einer typischen räumlichen Auflösung von 1 Mikrometer) quantitativ zu analysieren. A SIMS Instrument ist auch ein Ion Microprobe genannt.
- Part of Speech: noun
- Industry/Domain: Astronomy
- Category: Planetary science
- Company: PSRD
0
Creator
- Janina02
-
(V.I.P) 14554 points - 100% positive feedback
(Berlin, Germany)
