Home > Term: Secondary ion mass spectrometry (SIMS)
Secondary ion mass spectrometry (SIMS)
Přesnost měření technika používaná pro kvantitativně analyzovat prvků a izotopů materiálů v mikroskopických měřítcích (s typickou prostorové rozlišení 1 mikrometrů). A SIMS nástroj se také nazývá ion mikrosondu.
- Part of Speech: noun
- Industry/Domain: Astronomy
- Category: Planetary science
- Company: PSRD
0
Creator
- Marjeta
-
(V.I.P) 32277 points - 100% positive feedback
